QY-CTAP 9800芯片测试老化系统

_{河北全仪电子科技有限公司基于对半导体测试需求的深刻理解，整合行业优质资源，推出以艾德克斯、优利德、爱斯佩克、Pendulum等知名品牌为核心的高精度芯片测试老化系统。QY-CTAP 9800芯片测试老化系统覆盖从直流参数分析、高频信号测试到环境应力筛选的全测试流程，可满足数字集成电路、模拟集成电路、功率器件、传感器等多品类芯片的研发验证与可靠性考核需求。♦组成与核心设备参数♦}

一、系统架构概述----本系统采用模块化、可扩展的架构设计，由以下六大核心设备构成_：

各设备既可独立运行完成专项测试，也可通过全仪芯片测试自动化软件（QY-CTAP 9800）。该软件是本套老化测试系统的核心控制中枢，实现了对六台主力测试设备的统一调度、数据采集与智能分析，大幅提升了测试效率与数据一致性。

_{1.1、 IT2705 高精度直流电源分析仪}

IT2705是一款高度集成的模块化直流电源分析仪，专为动态功耗测量与电源特性分析而设计。该设备集成直流电源、回馈负载、任意波形发生器、示波采样与数据记录功能于一体，支持图形化操作界面，无需二次开发即可完成复杂测试流程。

核心参数：

· 支持多达8个模块混插，通道间独立控制且相互隔离

· 示波模式下采样率高达200kHz

· 数据采样最小时间间隔20μs

· 内置任意波形输出功能，支持正弦波、脉冲、指数等多种波形

· 标配USB/LAN/CAN/DigitIO通信接口

在芯片老化测试中的应用：

IT2705可作为芯片老化测试系统的核心供电单元，为被测芯片提供精确、可编程的电压电流激励。其200kHz的采样能力可完整捕捉芯片上电启动、瞬态响应等关键波形。配合内置的序列输出与电池模拟功能，可模拟真实工况下的复杂供电环境，适用于物联网终端芯片、电源管理芯片、汽车电子芯片的功耗特性分析。

_{1.2、 UTS7040A 频谱分析仪}

UTS7040A是一款旗舰级频谱/信号分析仪，提供2Hz至40GHz的完整频率覆盖范围，是5G毫米波、航空航天与国防射频特性分析的理想选择。

核心参数：

· 频率范围：2Hz~40GHz，完整覆盖Ka波段

· 显示平均噪声电平：-167dBm/Hz

· 实时带宽：40MHz（可升级至85/160/255MHz）

· 100%截获概率，最短截获时间3.21μs

· 相位噪声：<-108dBc/Hz

在芯片老化测试中的应用：

UTS7040A可用于射频芯片、通信芯片的频谱特性测试。其40GHz的频率上限覆盖了5G NR所有毫米波频段（n257/n258/n260），可直接测量77-81GHz汽车雷达的二次谐波信号。在老化测试中，该设备可监测芯片在温度应力下的频谱漂移、谐波失真等关键指标变化。

_{1.3、UPO71304 数字荧光示波器}

UPO71304是一款13GHz带宽的数字荧光示波器，专为高速数字信号完整性分析与半导体芯片性能验证而设计。

核心参数：

· 模拟带宽：13GHz（每通道）

· 最高实时采样率：40GSa/s（每通道）

· 最大存储深度：4Gpts（每通道）

· 波形捕获率：1,000,000 wfms/s

在芯片老化测试中的应用：

UPO71304是系统中最核心的高速信号分析工具。13GHz的带宽使其能够精准捕获高速串行总线、DDR接口等信号的完整波形特征。4Gpts的超大存储深度保证了长时间波形记录能力，配合40GSa/s采样率，可实现皮秒级的时间分辨率。在芯片老化过程中，该设备可实时监测信号眼图、抖动、上升/下降时间等关键参数的变化趋势，是高速芯片性能退化分析的核心工具。

1.4、CNT-104S 多通道频率分析仪

CNT-104S是一款高性能多通道频率分析仪，具备四通道400MHz频率分析能力，并可扩展至24GHz射频通道。

核心参数：

· 四通道并行测量

· 时间分辨率：优于7ps

· 频率分辨率：12-13位/秒

· 测量速度：高达20M测量/秒（内部存储）

· 支持无间隙零死区时间频率/周期测量

· 图形触摸屏显示，支持远程网络控制

在芯片老化测试中的应用：CNT-104S主要用于芯片时钟系统、PLL、振荡器等频率相关特性的精确测量。其优于7ps的时间分辨率可精准评估时钟抖动特性，四通道并行架构支持多路时钟信号同步分析。在老化测试中，该设备可连续监测芯片内部时钟的频率稳定性，及时发现因温度应力或电压漂移导致的频率偏差。

1.5、IT2806 精密源测量单元

IT2806是IT2800系列高精密源测量单元中的大电流型号，支持200V/3A直流输出及10A脉冲输出能力。

核心参数：

· 输出电压/电流：200V/3A（DC）、10A（脉冲）

· 最小分辨率：100nV/10fA

· 脉冲宽度：100μs

· 采样时间：10μs

· 采样缓存：100万点

· 集成功能：电压源、电流源、6位半万用表、电子负载、脉冲发生器、电池模拟器

在芯片老化测试中的应用：IT2806是本系统进行半导体器件IV特性测试的核心设备。其10fA的电流分辨率可精确测量皮安级别的漏电流，适用于超低功耗芯片的静态功耗评估。集成的六种设备功能使其无需更换接线即可完成从待机功耗到驱动能力的全套测试。在老化测试中，IT2806可用于定期监测芯片的IV特性漂移，是评估芯片寿命退化的重要依据。

1.6、 MC-812R 高低温试验箱

MC-812R是爱斯佩克MC系列小型超低温试验箱，具备宽广的温度控制范围与低噪音运行特性。

核心参数：

· 温度范围：-85℃ ~ +180℃

· 内尺寸：400 × 400 × 400 mm

在芯片老化测试中的应用：MC-812R提供芯片老化测试所需的环境应力。其-85℃至+180℃的宽温范围覆盖了军品级芯片的全部工作温度要求。通过可编程的温度循环，该设备可模拟芯片从极寒到高温的极端服役环境，配合其他测试设备实现在线参数监测，完成温度循环老化试验（TCT）和高温存储试验（HTS）等可靠性考核项目。

二、系统集成与测试流程

_{2.1  系统集成方案}

本系统采用标准化机架集成方案，所有设备均支持LAN或USB程控接口，可通过上位机软件统一调度。

 系统配置示意

2.2   典型测试流程

芯片老化测试遵循“应力施加—在线监测—周期评估”的闭环流程：

1. 初始性能基准测试：在常温（25℃）环境下，使用IT2806测量芯片的IV特性；

  UPO71304捕获高速接口信号眼图；CNT-104S测量时钟频率精度；UTS7040A分析射频指标。

2. 环境应力施加：由MC-812R按照预设曲线执行温度循环（如-55℃↔125℃），同时IT2705提供工作电压激励。

3. 在线参数监测：老化过程中，各测试设备按设定间隔自动采集关键参数，记录性能退化轨迹。

4. 周期性全参数评估：每完成若干温度循环后，降温至常温，重复步骤1的全参数测试，对比分析性能退化程度。5. 寿命预测与失效分析：基于多轮测试数据，建立芯片性能退化模型，评估使用寿命。

三、方案价值与应用场景

 3.1    对CECT旗下某院的核心价值

· 提升自主可控能力：系统采用国产主力品牌（艾德克斯、优利德）与国际知名品牌（爱斯佩克、瑞典Pendulum）组合，在保证性能的同时响应国产化替代号召。

· 覆盖全品类测试需求：从DC到40GHz射频、从静态IV到动态信号、从常温到-85℃极寒，一套系统满足多品类芯片测试需求。

· 降低综合测试成本：模块化设计支持按需扩展，避免重复购置；一机多能减少设备数量与占地面积。

· 支撑前沿技术研发：13GHz带宽示波器与40GHz频谱分析仪的组合，可支撑5G通信芯片、毫米波雷达芯片等前沿领域研发验证。

_{^{3.2     典型应用场景}}

四、技术支持与服务保障

河北全仪电子科技有限公司基于对芯片测试流程的深度理解，自主研发了全仪芯片测试自动化软件平台（QuanYi Chip Test Automation Platform，简称QY-CTAP）。该软件是本套老化测试系统的核心控制中枢，实现了对六台主力测试设备的统一调度、数据采集与智能分析，大幅提升了测试效率与数据一致性。

4.1.1   软件架构

QY-CTAP采用分层模块化架构，具备良好的扩展性与兼容性：

· 设备驱动层：内置ITECH、UNI-T、ESPEC、Pendulum等品牌设备的标准化通信协议库，支持LAN、USB、GPIB、RS232等多种程控接口。

· 任务调度层：支持图形化测试流程编排，用户可通过拖拽方式构建多设备协同测试序列，支持循环、分支、等待等逻辑控制。

· 数据采集层：实现多通道同步数据采集，采样率可依设备能力自适应匹配，支持实时波形显示与数据流盘。

· 分析呈现层：内置芯片测试专用算法库，自动生成IV曲线、眼图、频谱轨迹、频率稳定性报告等专业图表。

^{4.1.2     核心功能}

     4.1.3     芯片老化专用测试库

QY-CTAP预置了针对不同类型芯片的标准化测试模板，用户可在此基础上快速定制：

· 电源管理芯片测试包：效率曲线、线性/负载调整率、纹波抑制比、启动时序

· 射频芯片测试包：增益压缩点、邻道功率比、谐波失真、相位噪声

· 高速数字芯片测试包：眼图模板测试、时序裕量分析、抖动分解

· 传感器芯片测试包：灵敏度校准、温度补偿曲线、非线性误差

· 功率器件测试包：输出特性曲线、转移特性、击穿电压、开关损耗

4.1.4     软件优势

· 国产自主可控：完全由河北全仪电子科技有限公司自主研发，源代码可控，支持定制化二次开发。

· 高度自动化：从设备配置、测试执行到数据分析全程自动化，单次完整老化测试（含多温度点全参数采集）耗时从人工操作的8小时以上缩短至2小时以内。

· 数据追溯性：所有原始测试数据与配置文件均加密存储，满足芯片可靠性测试对数据完整性的严苛要求。

· 灵活扩展：支持新设备驱动的动态加载，系统可随测试需求变化持续升级。

4.1.5     操作界面示意

软件采用中文图形化界面，主要视图包括：

· 设备连接管理器：显示各设备连接状态与当前参数

· 流程编辑画布：用于拖拽搭建测试序列

· 实时监控窗口：多通道数据实时曲线与报警信息

· 数据回放分析器：支持历史测试数据的加载、对比与二次分析

· 报告生成向导：引导用户选择模板、添加结论、输出PDF/Word报告

河北全仪电子科技有限公司提供从方案设计、设备供应、集成调试到技术培训的全流程服务。公司拥有一支经验丰富的技术团队，可针对CECT旗下某院的特定测试需求进行定制化配置优化，确保系统高效稳定运行。同时，公司与艾德克斯、优利德、爱斯佩克、瑞典Pendulum等品牌建立了长期合作伙伴关系，可提供及时的原厂级技术支持与校准服务。

      本方案整合了当前测试测量领域的主流高端设备，构建了一套功能完备、性能先进、可扩展性强的高精度芯片测试老化系统。系统充分考虑了CECT旗下某院在芯片研发与可靠性验证方面的实际需求，具备从DC到40GHz、从常温到极寒的全方位测试能力。相信该系统的建成将有力支撑CECT旗下某院的芯片技术创新与产品质量保障工作。产品针对场景要求不断优化，欢迎共赢合作！

---河北全仪电子科技有限公司2026年