Keithley 700 系列半导体开关系统：为半导体测试注入高效精准新动能

Keithley 700系列包含 707B与708B 两款核心机型，以差异化配置满足不同规模测试场景的需求：
708B 单槽半导体开关矩阵：专为小型测试系统设计，可实现高达 96 个相交点的信号切换，支持单块交换卡 8 行 12 列的阵列布局，在有限引脚数仪器的测试场景中，以紧凑结构实现高效通道扩展，是研发实验室小批量器件测试的理想选择。
707B 六槽半导体开关矩阵：面向中大型自动化测试场景，支持高达 576 个相交点的信号切换，可扩展至 2880 个通道，轻松应对晶圆级多器件并行测试、批量生产筛选等大规模测试任务，显著提升测试吞吐量。
两款机型均针对现有测试系统的无缝集成进行了优化，完美解决用户升级难题。为降低 707A 和 708A 大型机用户的迁移成本，707B 和 708B 采用命令仿真设计，兼容专为前代机型开发的主流开关矩阵卡，用户无需更换现有硬件即可享受新型主机的性能优势，实现测试系统的平滑升级。
高性能矩阵卡组合，全场景覆盖测试需求：
Keithley 700 系列配套的专用矩阵卡，针对半导体测试的低电流、高阻抗、高压等特殊场景进行优化，为不同测试需求提供精准解决方案：
7174A 低电流矩阵卡：8×12 规格专为半导体研发与生产设计，低漏电特性与极低介电吸收率，确保关键器件测量速度远超传统切换技术。其卓越的低电流性能可完美适配 2635B 和 2636B System SourceMeter® SMU 仪器，增强高速 I-V 源信号输出与测量能力，同时支持 4200-SCS 参数分析仪的 I-V 及 C-V 测量功能，兼顾研发阶段的高精度分析与生产阶段的高效测试。
7072 半导体矩阵卡：同样采用 8×12 开关模块，聚焦晶圆及器件半导体参数测试中的低电平与高阻抗测量场景。设备配置两条低电流路径，最大偏置电流仅 1 pA，满足皮安级高灵敏度测量需求；两条专为 DC 至 1 MHz C-V 特性测量优化的信号路径，以及四条支持100nA或200 V 通用信号切换的高品质路径，实现从直流到高频的全参数覆盖。
7072-HV 高压半导体矩阵卡：针对低电平、高电压及高阻抗信号场景设计，两条信号路径可在偏置电流小于 1 pA 的情况下切换 1300 V 电压，是击穿测试、氧化层完整性检测等高压测试的理想选择；两条路径优化 DC 至 1 MHz 的 C-V 测量与共地低电流切换，四条偏置电流 < 20 pA 的路径支持高达 200 V 信号切换，兼顾高压测试与常规参数测量需求。
无缝兼容与高效集成，降低测试系统升级门槛：
Keithley 700 系列的兼容性设计贯穿始终，确保与现有测试设备的深度适配：
仪器兼容：与4200-SCS半导体参数分析仪的矩阵驱动器及GPIB接口完全兼容，可直接替代传统开关矩阵设备，无需对现有测试程序进行大幅修改，大幅降低系统升级的时间与成本。

环境适配：采用标准三轴连接器和线缆，实现超低电流切换性能，无论是实验室研发的小批量测试，还是生产现场的大规模自动化测试，均能稳定运行，确保测试结果的一致性与可靠性。
软件支持：可与 Keithley 自动化检定套件（ACS）无缝集成，支持从单台仪器控制到全测试机架自动化的灵活配置，用户可通过Python编写测试程序，实现从手动测试到自动化流程的快速切换，适配器件检定、参数测试、可靠性测试等多种场景。
赋能半导体全流程测试，助力产业高效发展
从实验室的器件研发到产线的批量生产，Keithley 700 系列半导体开关系统凭借以下核心优势，为半导体产业的高质量发展提供支撑：
高精度保障：低漏电、低偏置电流的设计，避免信号切换过程中的测量误差，确保 I-V 与C-V参数测量的准确性，为器件性能分析提供可靠数据支撑。
高效率提升：多通道并行切换能力显著提升测试吞吐量，减少单器件测试时间，降低生产测试成本，同时支持自动化测试流程，减少人工干预带来的误差与时间损耗。
低成本升级：兼容前代矩阵卡与现有测试仪器，用户无需大规模更换硬件即可完成系统升级，保护现有投资，同时降低新设备的学习与适配成本。
全场景覆盖：从低电流皮安级测量到 1300 V 高压击穿测试，从单器件分析到晶圆级批量测试，灵活的配置方案可满足不同半导体器件（如 MOSFET、IGBT、二极管、电容等）的测试需求，广泛应用于研发实验室、生产测试线、可靠性实验室等多个场景。
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